上海華巖儀器設備有限公司供應CDNY-03AM光學膜層厚度測量控制儀
CDNY-03AM是專為光學鍍膜設計的新一代光學膜層厚度測量控制儀。本儀器由于采用窄帶頻率技術,因而對信號諧波和直流漂移具有極強的抑制能力。
主要性能指標及技術指標
主信號通道:
信號輸入方式:單端交流輸入
輸入量程:0.5mV-500mV
信號頻率范圍:1KHz±5%
本機頻相噪聲:≤4nV/Hz(折合到輸入端)
性誤差: ≤0.1%
零點時源: ≤0.2%/h
參考信號通道:
信號輸入方式:單端交流輸入
輸入幅度:20-700mV
頻率范圍:≥320。
--------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
上海華巖儀器設備有限公司供應JYK-MHY光學膜厚控制儀
JYK-MHY光學膜厚控制儀特點:
1.量程選擇分為8檔:0.5、5、25、50、100、200、300、500mv
2.不會因量程選擇不當而導致儀器內部放大過沖的現象。
3.響應時間分為5檔:0.5、2.5、5、10、20秒。
4.鎖定方式:由調峰式改為調零式加90°或180°選擇,克服過去峰點難照準的缺陷
5.同步/擴展:由過去擴展10倍12次延伸至18次,增加了儀器的儲備。
技術指標:
主信號(光路信號) 參考信號(光電池)
單端輸入0.5-500mv(8檔可調) 單端輸入≥20mv
頻率 1000Hz±5% 頻率1000Hz±5%
500Hz±5% 500Hz±5%
250Hz±5% 250Hz±5%
響應時間:0.5-20秒(5檔可調)
鎖相方式:手動--調零+90°鍵或+180°鍵切換
輸出電壓:0-10v(應數字表0-199.9)
線性度:≤0.1%
穩定度:數字表±0.1%模擬表±1%
溫度漂移:≤0.2%/小時
工作電壓:AC 220V/50Hz
功耗:約21W
工作環境:0-40℃35-85%RH
體積:480x275x80
重量:約
———————————————————————————————————————————————
上海華巖儀器設備有限公司供應MKY-III型光學膜厚控制儀
MKY-Ⅲ型光學膜厚控制儀是一種以極值控制為主的光電式膜厚控制儀器。儀器高阻輸入端適用于真空光電管或光電倍增管,作接收元件的控制系統。低阻輸入端適用于硅光電池、硒光電池等,作接收元件的控制系統。儀器除用交流極值法控制膜厚外,還可以用一個表頭指示光電信號對時間的微分值,幫助準確控制極值點,提高控制準確度。主副表頭可方便對量程進行擴展補償。
該儀器靈敏度高、量程寬、控制準確、使用調整方便。廣泛應用于真空鍍膜領域。
·主心頻率:970~1000Hz
·放大器帶寬:150~250Hz
·靈敏度:高阻擋滿度值輸入電壓:10μV 低阻擋滿度值輸入電壓:0.1μV
·等效開路輸入噪聲:高阻擋≤1μV
低阻擋≤0.02μV
·線 性:2.5%
·穩 定 性:±0.1%/5分鐘
·對50Hz、100Hz抑制:>1000倍
·量程范圍:高阻擋:1V~0.1mV(可擴展至10μV)
低阻擋:10mV~1μV( 可擴展至0.1μV)
·外型尺寸:440×300×169mm
|