|
KDY-20兩探針電阻率測試儀 二探針電阻率測試儀
1、概述
KDY-20型兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國國家標準及美國材料與試驗協會（ASTM）SEMIMF397-1106（用兩探針測量電阻率的測量方法）推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設計。它適合于測量橫截面尺寸是可測量的，而且棒的長度與橫截面最大尺寸之比不應小于3：1。例如橫斷面為圓形、正方形、長方形或梯形的單晶或多晶錠。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端進出，遠離電壓測量探針，因此電流流過金屬與半導體接觸處產生的許多副效應（如珀爾帖效應、塞貝克效應、少子注入效應等），對測量的影響較小，因此兩探針法的測量精度一般優于四探針法。特別是對多晶材料的測量，由于多晶晶粒間界處，雜質局部偏析可能導致電阻率較大變化，這種影響對四探針法更為嚴重，故不推薦用四探針法測量多晶材料的電阻率。
本儀器主要由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試臺及兩探針頭組成。儀器的特點是主機配置雙數字表，在測量電阻率的同時，另一塊數字表（以萬分之幾的精度）適時監測全程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉換，更及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流高度穩定。本機配有恒流開關，在測量某些材料時，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發生，更好地保護被測材料。儀器配置了本公司的專利產品：“小游移探針頭”，間距為1.59mm的兩探針頭探針游移率在0.2%以下。保證了儀器測量電阻率的重復性的準確度。本機可配用KDY兩探針測量系統，置入必須的數據后，測量軟件會配合探頭在硅棒上移動測量，自動計算各點的電阻率、正反向電阻率平均值、電阻率的最大值、電阻率最小值，最大百分變化，測量數據實時存儲在數據庫中，可隨時查詢所有測量數據或按條件查詢；提供打印及導出格式供用戶選擇，測量快速、精確，用戶在測量使用時會更加方便快捷。
2、技術參數
（1）測量范圍：
可測硅晶體電阻率：0.005-10000Ω·cm
可測硅棒尺寸：最大長度300mm；直徑20mm（均可按用戶要求更改）
（2）恒流源：
輸出電流：DC0.001-100mA五檔連續可調
量程：0.001-0.01mA（1-10μA）、0.01-0.1mA（10-100μA）、0.1-1.0mA、1.0-10mA、10-100mA
恒流精度：各檔均優于±0.05%
（3）直流數字電壓表：
測量范圍：0-199.99mV
靈敏度：10μV
基本誤差：±（0.004%讀數±0.01%滿度）
輸入阻抗：≥1000MΩ
（4）電阻測量誤差：≤0.3%
（5）兩探針頭：KDT-9
探針間距：1.59±0.01mm探針直徑Φ0.8mm
游移率：＜0.2%探針材料：硬質合金（WC）
探針壓力：3±1N/單針
（6）供電電源：
AC220V±10%50/60Hz.功率：12W
不能與未加穩壓濾波的大功率、高頻設備共用電源
（7）使用環境：
溫度：23±2℃相對溫度：≤65%
無較強的電場干擾，無強光直接照射
（8）重量、體積：
主機重量：7.5Kg
體積：390×340×190（單位：mm長度×寬度×高度）
上海華巖儀器設備有限公司供應KDY-2型兩探針電阻率測試儀 產品簡介
KDY-2型兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國國家標準儀器采用GB/T 1551-1995硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法及美國材料與試驗協會（ASTM）推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設計。它適用于測量橫截面積均勻的圓形、方形、或矩形單晶錠的電阻率。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端進出，遠離電壓測量探針，因此電流流過金屬與半導體接觸處產生的許多副效應（如珀爾帖效應、塞貝克效應、少子注入效應等），對測量的影響較小，因此兩探針法的測量精度一般優于四探針法。特別是對多晶材料的測量，由于多晶晶粒間界處，雜質局部偏析可能導致電阻率較大變化，這種影響對四探針法更為嚴重，故不推薦用四探針法測量多晶檢驗棒的電阻率。
本儀器主要由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試臺及兩探針頭組成。儀器的特點是主機配置雙數字表，在測量電阻率的同時，另一塊數字表（以萬分之幾的精度）適時監測全程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉換，更及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流高度穩定。本機配有恒流開關，在測量某些材料時，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發生，更好地保護被測材料。儀器配置了本公司的產品：“小游移探針頭”，間距為1.59mm的兩探針頭探針游移率在0.2%以下。保證了儀器測量電阻率的重復性的準確度。本機可配用KDY測量系統，設計語言為VC++，可對四探針、兩探針電阻率測量數據進行處理并修正測量數據，特定數據存儲格式，顯示變化曲線、正反向電阻率平均值、電阻率的最大值、電阻率最小值，給測量帶來很大方便。兼容性：適用于通用電腦，支持Windows XP、Vista。
測試儀主機由主機板、電源板、前面板、 后背板、機箱組成。電壓表、電流表、電流調節電位器、恒流源開關及各種選擇開關均裝在前面面板上。后背板上只裝有電源插座、電源開關、兩探針頭及電極引線連接插座、數據處理器連接插座及保險管。機箱底座上安裝了主機反電源板，相互間均通過接插件聯接。
主機技術參數
（1）測量范圍：
可測硅晶體電阻率：0.005-50000Ω·cm
可測硅棒尺寸：最大長度300mm；直徑20mm（均可按用戶要求更改）。
（2）恒流源：
輸出電流：DC0.001-100mA 五檔連續可調
量程： 0.001-0.01mA（1-10μA）
0.01-0.1mA（10-100μA）
0.1-1.0mA
1.0-10mA
10-100mA
恒流精度：各檔均優于±0.05%
（3）直流數字電壓表：
測量范圍：0-199.99mV
靈敏度：10μA
基本誤差：±（0.004%讀數±0.01%滿度）
輸入阻抗：≥0.3%
（4）電阻測量誤差：≤0.3%
（5）兩探針頭：KDT-9
探針間距：1.59±0.01mm 探針直徑Φ0.8mm
游移率：＜0.2% 探針材料：硬質合金（WC）
探針壓力：3±1N/單針
（6）供電電源：
AC 220V ±10% 50/60 Hz. 功率：12W
（7）使用環境：
溫度：23±2℃ 相對溫度：≤65%
無較強的電場干擾，無強光直接照射。
（8）重量、體積：
主機重量：7.5Kg
———————————————————————————————————————————
上海華巖儀器設備有限公司供應KDY-2型兩探針電阻率測試儀（測鍺錠專用） 產品簡介
KDY-2型兩探針電阻率測試儀是按照我國國家標準及美國材料與試驗協會（ASTM）推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設計。它適合于測量模截面尺寸是可測量的，而且棒的長度大于橫截面線度的有規則的長棒，例如橫斷面為圓形、正方形、長方形或梯形的單晶或多晶錠。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端進出，遠離電壓測量探針，因此電流流過金屬與半導體接觸處產生的許多副效應（如珀爾帖效應、塞貝克效應、少子注入效應等），對測量的影響較小，因此兩探針法的測量精度一般優于四探針法。特別是對多晶材料的測量，由于多晶晶粒間界處，雜質局部偏析可能導致電阻率較大變化，這種影響對四探針法更為嚴重，故不推薦用四探針法測量多晶材料的電阻率。
本儀器除適合測量體形有規則的單晶棒外，也適合測量多晶棒。兩探針法測量水平區熔多晶鍺電阻率，在我國已有四十多年的實踐經驗，對區熔鍺錠橫截面面積的變化已總結出一套計算方法，本儀器采用李賀成教授提出的計算公式編寫程序，可用微機HQ-710C處理區熔鍺錠的測量數據，或采用KDY測量系統專用軟件測數據，并根據北京有色金屬研究總院余懷之教授的提議，擴大了微處理機的數據處理范圍。
本儀器主要由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試臺及兩探針頭組成。儀器的特點是主機配置雙數字表，在測量電阻率的同時，另一塊數字表（以萬分之幾的精度）適時監測全程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉換，更及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流高度穩定。本機配有恒流源開關，在測量某些材料時，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發生，更好地保護被測材料。儀器配置了本公司的產品：“小游移探針頭”，間距為10mm的兩探針頭探針游移率在0.02～0.05%。保證了儀器測量電阻率的重復性和準確度。本機需配用HQ-710C數據處理器或KDY測量系統專用軟件，置入必須的數據后，處理器會配合探頭在鍺錠上移動測量，自動計算、打印出各點的電阻率、電阻率的最大值、電阻率最小值，給測量帶來很大方便。
主機技術參數
（1）測量范圍：
可測電阻率：鍺晶體0.1-100Ω·cm
可測鍺錠尺寸：最大長度700mm；最大高度50mm；最大寬度60mm。
（2）恒流源：
輸出電流：DC 0.004-100mA 五檔連續可調
量程：0.004-0.01mA
0.04-0.10mA
0.4-1.0mA
4.0-10mA
40-100mA
恒流精度：各檔均優于±0.05%
（3）直流數字電壓表：
測量范圍：0-199.99mV
靈敏度：10μA
基本誤差：±（0.004%讀數+0.01%滿度）
輸入阻抗：≥1000MΩ
（4）電阻測量誤差：≤0.3%
（5）兩探針頭：KDT-5
探針間距：10.00±0.02mm
游移率：0.02-0.05%
探針壓力：4±1N/單針
（6）供電電源：
AC 220V ±10% 50/60Hz 功率：12W
（7）使用環境：
溫度：23±2℃ 相對溫度：≤65%
無較強的電場干擾，無強光直接照射。
（8）重量、體積：
主機重量：7.5Kg
體積：390×340×190（單位：mm 長度×寬度×高度）
———————————————————————————————————————————
上海華巖儀器設備有限公司供應KDY-2型兩探針電阻率測試儀（測細硅芯專用） 產品簡介
KDY-2型兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國國家標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協會（ASTM）推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設計。配套測試架適合于測量硅芯電阻率。兩探針法的測量精度一般優于四探針法。
整套儀器有如下特點
1、配有雙數字表：一塊數字表在測量顯示電壓的同時，另一塊數字表（以萬分之幾的精度）適時監測全過程中的電流變化，使操作更方便，測量更精確。
數字電壓表量程：0—199.99mV 靈敏度：10μV 輸入阻抗：1000ΜΩ
基本誤差±(0.04-0.05%讀數+0.01%滿度)
2、可測電阻率范圍：0.005—50000Ω·cm。
3、測量電流由高度穩定（萬分之幾精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響。
電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。調節范圍從0.001~100mA
4、儀器采用觸點電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉換開頭及繼電器（＞10萬次），在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。
5、可加配HQ-710E微處理機及打印機，實現自動換向測量、求平均值，計算并打印電阻率最大值、最小值、最大百分變化率、平均百分變化率等內容。
6、可加配電腦，實現數據采集、自動換向測量、求平均值，計算、存儲并打印電阻率最大值、最小值、最大百分變化率、平均百分變化率等內容。
———————————————————————————————————————————
上海華巖儀器設備有限公司供應成套KDY-2兩探針電阻率測試儀(測檢磷檢硼棒專用)
產品簡介
KDY-2型兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國國家標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協會（ASTM）推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設計。它適合于測量橫截面面積均勻的圓型，方型或矩形單晶錠(如硅芯、檢磷、硼棒、區熔鍺錠等)的電阻率，測樣長度與截面最大尺寸之比應不小于3：1。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端進出，遠離電壓測量探針，因此電流流過金屬與半導體接觸處產生的許多副效應（如珀爾帖效應、塞貝克效應、少子注入效應等），對測量的影響較小，測量結果為橫截面的平均電阻率，兩探針法的測量精度一般優于四探針法。
整套儀器有如下特點
1、配有雙數字表：一塊數字表在測量顯示電壓的同時，另一塊數字表（以萬分之幾的精度）適時監測全過程中的電流變化，使操作更方便，測量更精確。
數字電壓表量程：0—199.99mV 靈敏度：10μV 輸入阻抗：1000ΜΩ
基本誤差±(0.04-0.05%讀數+0.01%滿度)
2、可測電阻率范圍：0.005—50000Ω·cm。
3、測量電流由高度穩定（萬分之幾精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響。
電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。調節范圍從0.001~100mA
4、儀器采用觸點電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉換開頭及繼電器（＞10萬次），在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。
5、可加配HQ-710E微處理機及打印機，實現自動換向測量、求平均值，計算并打印電阻率最大值、最小值、最大百分變化率、平均百分變化率等內容。
6、可加配電腦，實現數據采集、自動換向測量、求平均值，計算、存儲并打印電阻率最大值、最小值、最大百分變化率、平均百分變化率等內容。
|
當前位置：
