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上海華巖儀器設備有限公司供應SZT-5硅材料復合測試儀
一,概述;
SZT-5硅材料復合測試儀，是由二種硅材料測試儀器組合而成的
1，二量程的電阻測量儀器，配以手持式四針測試頭或座式測試架，可用來測量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率
在0.01~200歐姆/厘范圍內的半導體材料。通過對恒流源的調整，可以對某些測量結果進行修整，例如對普通硅材料的測試結果要乘以0.628的探險頭修正系數，對硅材料薄層擴散和導電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數為4.53等均可通過調正恒流電流加以處理。
SZT－5數字式四探針測試儀，體形小巧，操作方便，量程適中，十分適於對重煉回料的分選。
2，整流法硅材料P-N極性判別儀，配有三針手持式探頭，能對片狀或塊狀電阻率在1000-0.01歐姆/厘米的。硅材料進行極性判別
本儀器工作環境條件為：
溫 度：18℃―25℃
相對濕度：50%－70%
工作室內應無強電場干擾，不與高頻設備共用電源。
二，技術參數
1,測量范圍
（1）電阻率測量：
電 阻 率 0.01-200Ω-cm
方塊電阻 0.01-200Ω-口
電 阻 0.01-200.0Ω
2,數字電壓表
(1)量 程 : 200mV單一量程
(2)誤 差: 讀數 ±0.2%±3字
(3)輸入電阻 : >10MΩ
3,恒 流 源
(1)電流輸出 0~10mA連續可調
(2)量 程 1mA, 10mA
(3)誤 差 ±0.2%±3字,
4,手持式四探針測試頭
(a)探 針 間 距:: 1mm
(b)探針機械游移率: ±1.0%
(c)探 針 材 料: 碳化鎢,φ0.
(d)壓力: 最大 2Kg
（2）導電類型判別：
可對電阻率為1000-.0.01歐姆/厘米的硅材料作導電類型測定，同時可以聲，光報警方式表示被測材料屬于”重摻”。
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上海華巖儀器設備有限公司供應SZT-4數字式四探針測試儀
SZT-4數字式四探針測試儀，是二量程的電阻測量儀器，配以手持式測試頭或座式測試架，可用來測量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內的半導體材料。(客戶根據不同的要求可以選擇不同的量程，最小可以測量0.0001Ω最大可以測量100000Ω,根據電流檔定精度)通過對恒流源的調整，可以對某些測量結果進行修整，例如對普通硅材料的測試結果要乘以0.628的探險頭修正系數，對硅材料薄層擴散和導電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數為4.53等均可通過調正恒流電流加以處理。SZT－4數字式四探針測試儀，體形小巧，操作方便，量程適中，十分適於對重煉回料的分選。本儀器工作環境條件為：
溫 度：18℃―25℃
相對濕度：60%－80%
工作室內應無強電場干擾，不與高頻設備共用電源。
二，技術參數 
1,測量范圍
電 阻 率 0.01-200Ω-cm
方塊電阻 0.01-200Ω-口
電 阻 0.01-200.0
2,數字電壓表
(1)量 程 : 200mV單一量程
(2)誤 差: 讀數 ±0.2%±3字
(3)輸入電阻 : >10MΩ
3,恒 流 源
(1)電流輸出 0~10mA連續可調
(2)量 程 1mA, 10mA
(3)誤 差 ±0.2%±3字,
4,手持式四探針測試頭
(1)探 針 間 距:: 1mm
(2)探針機械游移率: ±1.0%
(3)探 針 材 料: 碳化鎢,φ0.
(4)壓力: 最大 2Kg
5,電源: 220V±10%：50Hz
功耗：5W
6，外形尺寸;
7，使用方法：取出儀器平放於桌上，將三芯電源線接入儀器的電源插座中，并接通交流電壓（220V），再將測試探頭的插頭插入相應的插座中，按下電源開關使儀器得電，儀器上的數字電壓表就有讀數顯示，如果面板上的二個功能開關全部處於彈出狀態，則二個開關旁邊的“調整”指示燈和：“1mA”指示燈將被點亮，此時旋轉電流調節旋鈕電壓表讀數就會發生有規則的變化，這說明儀器已經可以正常工作。
下一步就可以跟據測試的須要對電流進行調整。電流調整應該將電流開關放在10mA的位置上。
8，電流調整：
（1）半導體（硅）材料的電阻率測試：
在10mA電流量程上將電流調到6.28mA,相當于在10mA電流情況下測得的結果,乘以探頭修正系數0.628。
由於恒流源的調整，1mA和10mA是同步的，在`10mA調準以后1mA量程同樣包含有這個修正系數。
（2）半導體（硅）材料薄層擴散，玻璃或塑料的薄導電鍍復層的方塊電阻 測試:
在10mA電流量程上將電流調至4.53mA, 測得結果乘以10,就是方塊電阻。
（3）電阻測試： 電阻測試不能使用探頭，必須換用帶有鱷魚夾子的四線插頭
“電阻測試線”（選配件）。電流調到10mA,電壓表的顯示值
就是電阻值，不用修正。
(4)在做好測試前的準備工作之后，取下探頭保護蓋，將探頭壓在被測工件上，使四根探針和工件保持良好接觸，
使用時的注意事項；
（1） 保護蓋取下后一定要保存好，用畢仍要蓋好，以防探針損壞。
（2） 儀器操作時，應備戴乾燥手套，操作場地，桌椅均應保持乾燥。
（3） 在被測材料外形尺寸允許的情況下，建議使用臺式測試架（選購件），可使測試精度和穩定性都會有所提高。
（4） 對於被測工件為片狀其厚度<3.49毫米時,還應對測試結果進行厚度修正,修正參數見參數表,附錄`1A和附錄1B 。
（5） 附錄2，是對片狀工件外形（園形，矩形）和測量位置的修正參數表。
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上海華巖儀器設備有限公司供應STZ-3型半導體導電型號鑒別儀 主要說明：
STZ—3型半導體導電型號鑒別儀是為了鑒別硅單晶材料的導電類型 “P”和 “N”的測量儀器,是采用溫差效應和整流效應兩種方法相結合綜合性的測量導電型號儀器,測量范圍廣硅材料電阻率從10-2~104Ω•cm,儀器采用美國16位單片集成電路計算機為核心,利用數字采集濾波技術,并用 “P” “N”數碼直接顯示。采用了單片機技術可使測量的準確度和穩定性大幅度提高。儀器采用手持式四探然探頭，使用簡單，操作方便，且壽命長，適合半導體材料廠、器件廠和科研部門需要。
用作太陽能多晶材料分選時,采用整流法,對<0.01Ω-cm的材料具有聲光報警功能,廣泛應用于太陽能電池生產的原材料篩選環節,快速高效。
主要技術指標： 
1． 測量范圍：硅單晶材料電阻率10-2~104Ω•cm
2． 可測量材料：半導體硅棒和硅片，及硅碎顆粒。
可測半導體材料尺寸：Φ15~Φ150 mm以上。
3． 顯示方式：P、N 燈顯示。
4． 測試探頭：手持式 探針間距3 mm 探針Φ1mm 高速鋼
5． 電源：220V 50HZ 20W
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當前位置：
