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CV2000型電容電壓特性測(cè)試儀CV-2000 CV-5000、HLY-2型直流恒流源
CV2000型電容電壓特性測(cè)試儀CV-2000 CV-5000、HLY-2型直流恒流源
產(chǎn)品名稱: CV2000型電容電壓特性測(cè)試儀CV-2000 CV-5000、HLY-2型直流恒流源
產(chǎn)品型號(hào): CV-2000型電容電壓特性測(cè)試儀
產(chǎn)品產(chǎn)地:
產(chǎn)品特點(diǎn): 上海華巖儀器設(shè)備有限公司供應(yīng)CV-2000型電容電壓特性測(cè)試儀、CV-5000電容電壓特性測(cè)試儀、HLY-2型直流恒流源
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8252 CV2000型電容電壓特性測(cè)試儀CV-2000 CV-5000、HLY-2型直流恒流源 0
CV2000型電容電壓特性測(cè)試儀CV-2000 CV-5000、HLY-2型直流恒流源 詳細(xì)信息

上海華巖儀器設(shè)備有限公司供應(yīng)CV2000型電容電壓特性測(cè)試儀CV-2000 
       CV-2000 型 電 容 電 壓 特 性 測(cè) 試 儀    
        作為組成半導(dǎo)體器件的基本結(jié)構(gòu)的PN結(jié)具有電容效應(yīng)(勢(shì)壘電容)。加正向偏壓時(shí),PN結(jié)勢(shì)壘區(qū)變窄,勢(shì)壘電容變大;加反向偏壓時(shí),PN結(jié)勢(shì)壘區(qū)變寬,勢(shì)壘電容變小。 
    CV-2000型電容電壓特性測(cè)試儀是測(cè)試頻率為1MHz的智能化數(shù)字的電容測(cè)試儀器,專用于測(cè)試半導(dǎo)體器件PN結(jié)的勢(shì)壘電容在不同偏壓下的電容量,也可測(cè)試其它電容。 
    面板上的發(fā)光二極管指示儀器的工作狀態(tài),用數(shù)碼管組成的顯示板,將被測(cè)元件的數(shù)值,小數(shù)點(diǎn)清晰地顯示出來(lái)。儀器有較高的分辨率,電容量是四位讀數(shù),可分辮到0.01pF,偏置電壓分辨力為0.1V,漏電流分辨力為0.01uA。 
    儀器配有專用CV-2000型測(cè)量座,接插元件靈活,方便可靠。 
    本儀器測(cè)量技術(shù)先進(jìn),性能穩(wěn)定可靠,功能齊全。操作簡(jiǎn)便,測(cè)試速度快,精度高。可廣泛應(yīng)用于元件生產(chǎn)廠,科研部門,國(guó)防軍工,高等院校等各個(gè)部門。
    技術(shù)指標(biāo)
測(cè)試信號(hào)頻率
 1.000MHz±0.01%
測(cè)試信號(hào)電壓
 小于或等于100mVrms
電容測(cè)量范圍
 1.00pF~1000pF
工作誤差
 ±3.0%±2字
直流偏壓
 最大100V
供電電源
 交流電壓:220V±5%;
 頻率: 50Hz±5%;
 消耗功率:不大于40W;
工作環(huán)境
 溫度:0—40℃;
 濕度:20%~90%RH 40℃;
實(shí)例:CV-2000電容電壓特性測(cè)試儀搭配ST-102A探針臺(tái)應(yīng)用于半導(dǎo)體分立器件工藝監(jiān)測(cè)方案

品名
CV-2000電容電壓特性測(cè)試儀
價(jià)格
 
特點(diǎn)/規(guī)格
 

*.本儀器主要用于測(cè)試電容在不同直流電壓時(shí)的電   容值;
*.試信號(hào)頻率:1.000MHz±0.01%;
*.測(cè)試信號(hào)電壓:小于或等于100mVrms;
*.電容測(cè)量范圍:1.00pF~1000pF;
*.工作誤差:±3.0%±2字;
*.直流偏壓:最大100V;


 

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ST-102A型探針測(cè)試臺(tái)

         ST-102A型探針測(cè)試臺(tái)(英文叫Prober station,中文又稱中測(cè)臺(tái),點(diǎn)測(cè)機(jī)。)、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測(cè)試。

技 術(shù) 指 標(biāo)

工作臺(tái)面
 370mm*245mm
載物臺(tái)直徑
 4"
光學(xué)參數(shù)
 總放大率:50-100倍;手輪調(diào)焦范圍:60mm;升降調(diào)焦范圍:200mm;
精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)

 粗調(diào)范圍:360°;微調(diào)范圍:±10°;最小刻劃:1°;
 銅盤直徑:Φ85mm;絕緣盤直徑:Φ102mm

三維探針座
 探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍:±3.25mm,分辨率±2μ;
 三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定,由磁性開關(guān)控制;
 最多可布三維探針座6個(gè);
 探針臂伸出長(zhǎng)度:60mm;
 探針長(zhǎng)度:40mm;
探針
  探針材質(zhì)硬質(zhì)合金,針尖曲率半徑2μm;

標(biāo)準(zhǔn)配置:主工作臺(tái)、顯微鏡、承片臺(tái)、三維微調(diào)架2個(gè)、探針臂2支、探針2支。
可選配件:三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。可按用戶的實(shí)際需求進(jìn)行訂做。

 

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品名
HLY-2型直流恒流源
價(jià)格
 
特性/規(guī)格
 

*.采用輕觸式開關(guān)控制電流量程換檔,恒流精度   高、范圍寬同時(shí)配備電壓測(cè)量功能。并配備計(jì)   算機(jī)通訊接口,可由計(jì)算機(jī)控制取數(shù)。
*.電流量程: 1μA,1OμA,100μA,1mA,10mA,100mA
*.電壓表:1.00mV-200.00mV
*.電流換向:有

 

 

CV-5000電容電壓特性測(cè)試儀
特點(diǎn)/規(guī)格
*.可用于測(cè)試半導(dǎo)體器件PN結(jié)的勢(shì)壘電容在不同偏壓下的電容量,也可進(jìn)行Mos電容的外加電壓掃描測(cè)試,還可測(cè)試其它MIS電容;
*.由軟件控制電壓的掃描輸出,讀取不同電壓點(diǎn)的電容值并在電腦中繪出電容-電壓的變化曲線;
*.試信號(hào)頻率:1.000MHz±0.01%;
*.測(cè)試信號(hào)電壓:小于或等于100mVrms;
*.電容測(cè)量范圍:1.000pF~5000.0pF;
*.工作誤差:±3.0%±2字;
*.直流偏壓-35V~+35V(可擴(kuò)展),由軟件按設(shè)定步進(jìn)電壓值輸出偏置電壓;

在集成電路特別是MOS電路的生產(chǎn)和開發(fā)研制中,MOS電容的C-V測(cè)試是極為重要的工藝過程監(jiān)控測(cè)試手段,通過C-V測(cè)試達(dá)到優(yōu)化生產(chǎn)過程中的工藝參數(shù),提高IC成品率。
    MOS(金屬-氧化物-半導(dǎo)體)結(jié)構(gòu)的電容是外加偏置電壓的函數(shù),MOS電容隨外加電壓變化的曲線稱之為C-V曲線(簡(jiǎn)稱C-V特性)。C-V曲線與半導(dǎo)體的導(dǎo)電類型及其摻雜濃度、SiO2-Si系統(tǒng)中的電荷密度有密切的關(guān)系。 利用實(shí)際測(cè)量到的MOS結(jié)構(gòu)的C-V曲線與理想的MOS結(jié)構(gòu)的C-V特性曲線比較,可求得氧化硅層厚度、襯底摻雜濃度、氧化層中可動(dòng)電荷面密度、和固定電荷面密度等參數(shù)。
    另外作為組成半導(dǎo)體器件的基本結(jié)構(gòu)的PN結(jié)具有電容效應(yīng)(勢(shì)壘電容)。加正向偏壓時(shí),PN結(jié)勢(shì)壘區(qū)變窄,勢(shì)壘電容變大;加反向偏壓時(shí),PN結(jié)勢(shì)壘區(qū)變寬,勢(shì)壘電容變小。
    CV-5000型電容電壓特性測(cè)試儀是測(cè)試頻率為1MHz的智能化數(shù)字的電容測(cè)試儀器,既可用于測(cè)試半導(dǎo)體器件PN結(jié)的勢(shì)壘電容在不同偏壓下的電容量,也可進(jìn)行Mos電容的外加電壓掃描測(cè)試,還可測(cè)試其它MIS電容。
    該電容電壓特性測(cè)試系統(tǒng)由主機(jī)和上位機(jī)(PC)組成,并在軟件控制下完成校準(zhǔn)及測(cè)試等功能,同時(shí)顯示C-V電容電壓特性曲線。主機(jī)面板上的發(fā)光二極管指示儀器的工作狀態(tài),用數(shù)碼管組成的顯示板,將被測(cè)元件的數(shù)值,小數(shù)點(diǎn)清晰地顯示出來(lái)。儀器有較高的分辨率,電容量是五位讀數(shù),可分辮到0.001pF,偏置電壓分辨力為0.1V,漏電流分辨力為0.01uA。
    儀器配有專用CV-5000型測(cè)量座,接插元件靈活,方便可靠。
   CV-5000型電容電壓特性測(cè)試儀軟件測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序,程序操作直觀易用。測(cè)試程序在計(jì)算機(jī)與CV-5000型電容電壓特性測(cè)試測(cè)試儀連接的狀態(tài)下,通過計(jì)算機(jī)的USB口實(shí)現(xiàn)通訊。
    測(cè)試程序控制電容電壓特性測(cè)試測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來(lái)。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。
技 術(shù) 指 標(biāo) :
測(cè)試信號(hào)頻率
 1.000MHz±0.01%
測(cè)試信號(hào)電壓
 小于或等于100mVrms
電容測(cè)量范圍
 1.000pF~5000.0pF
工作誤差
 ±3.0%±2字
直流偏壓
 -35V~+35V(可擴(kuò)展),由軟件按設(shè)定步進(jìn)電壓值輸出偏置電壓;
軟件功能

 由軟件控制電壓的掃描輸出,讀取不同電壓點(diǎn)的電容值并在電腦中繪出電容-
 電壓的變化曲線。軟件可記錄、保存、打印每一點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù),也可把測(cè)試  數(shù)據(jù)輸出到Excel中,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析;

電腦通訊接口
 USB通訊接口;
應(yīng)用
 主要應(yīng)用于PN結(jié)摻雜和MOS摻雜C-V特性測(cè)量在不同偏壓下的電容量,也可測(cè)試
 其它電容。
供電電源
 交流電壓:220V±5%;頻率: 50Hz±5%;消耗功率:不大于40W;
工作環(huán)境
 溫度:0~40℃;濕度:20%~90%RH 40℃;

 

CV2000型電容電壓特性測(cè)試儀CV-2000 CV-5000、HLY-2型直流恒流源 同類產(chǎn)品
四探針頭/紅寶石探針頭/電動(dòng)測(cè)試架/手動(dòng)測(cè)試架/軟件     碳纖維電阻率測(cè)試裝置測(cè)試儀     QJ36C電線電纜導(dǎo)體電阻材料電阻率智能測(cè)試儀QJ-36C     SH-ST2248 ST-2248A型數(shù)字式多功能四探針測(cè)試儀、SZ-82數(shù)字式四探針測(cè)試儀 電阻率     ST-11型導(dǎo)電類型鑒定儀、SH-ST251 SH-ST251A數(shù)字式方阻測(cè)試儀     SX-1934(原SZ82)數(shù)字式四探針測(cè)試儀SX1934(原SZ-82)SX1944     KV-SP-HY210實(shí)驗(yàn)室用高精度手動(dòng)絲印臺(tái)KV-SP-HY220     KV-FPB-SP02四探針直流低電阻測(cè)試儀     FP-001四探針直流低電阻測(cè)試儀     KV-EC-7300電致變色器件循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)     RTS-11型金屬四探針測(cè)試儀 半自動(dòng)四探針測(cè)試儀     WCT-100型硅單晶壽命測(cè)試儀、DSY-II型單晶少子壽命測(cè)試儀DSY-2     STY-3導(dǎo)電型號(hào)測(cè)試儀STY-1、NCT-1無(wú)接觸型號(hào)測(cè)試儀     KDB-2A鋁箔直流電阻測(cè)試儀、KDB-2B金屬薄膜方塊電阻測(cè)試儀方阻     KDA-1智能四探針電阻率/方阻測(cè)試儀方塊電阻測(cè)試儀     KDY-4四探針電阻率/方阻測(cè)試儀方塊電阻測(cè)試儀     KDY-1A便攜式電阻率/方阻測(cè)試儀 KDY-1M手持式方塊電阻測(cè)試儀     KDB-1涂層電阻率/方塊電阻測(cè)試儀(廣量程) KDB-3雙組合四探針方阻/電阻率測(cè)試儀     KDB-1A雜質(zhì)濃度測(cè)試儀(測(cè)量計(jì)算出晶體內(nèi)的雜質(zhì)濃度)     KDM-100A半絕緣半導(dǎo)體電阻率分布測(cè)繪儀、KDM-1000半絕緣半導(dǎo)體電阻率分布測(cè)繪儀     KDY-20兩探針電阻率測(cè)試儀KDY-2二探針電阻率測(cè)試儀方阻測(cè)試儀     XX2型方塊電阻測(cè)試儀XX-2     SDY5型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀SDY-5     SDY4型四探針測(cè)試儀SDY-4     SDY4型四探針測(cè)試儀(配DJ1測(cè)試臺(tái))     DLY-2導(dǎo)電類鑒別儀 DSY-2單晶少子壽命測(cè)試儀DSY-II、FJDY-1非接觸硅片電阻率測(cè)試儀     TD-C鍍層電阻測(cè)量?jī)xTDC方塊電阻/薄膜電阻     SX-1903型PN類別鑒定儀SX1903數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì)     SX-1934B型數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì)SX1934B     ST20/ST21/SRM232型方塊電阻測(cè)試儀ST-20/ST-21H/SRM-232、探針探頭     LT-2單晶少子壽命測(cè)試儀LT-3高頻光電導(dǎo)壽命測(cè)試儀     Metal Comdux 2010多功能導(dǎo)電率測(cè)試器Comdux-2010導(dǎo)電率測(cè)試儀     SX-1944數(shù)字式四探針測(cè)試儀SX1944四探針測(cè)試計(jì)SX1934 SZ82     SX-1934C型數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì)SX1934C四探針測(cè)試儀     KDY-I四探針電阻率方塊電阻測(cè)試儀KDY-1四探針電阻率/方阻測(cè)試儀(低阻型)     STY-2導(dǎo)電型號(hào)測(cè)試儀STY2導(dǎo)電型號(hào)測(cè)量?jī)x、STY-2R型全類型整流法導(dǎo)電型號(hào)測(cè)試儀STY2R     LT-1 LT-1B高頻光電導(dǎo)少子壽命測(cè)試儀LT-1C LT-100C數(shù)字硅晶體少子壽命測(cè)試儀     FQR-7501 FQR-7502型渦流導(dǎo)電儀FQR7501 FQR7502     FZ-2006 FZ-2010型半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀FZ-2006A FZ2010     STZ-8型半導(dǎo)體導(dǎo)電型號(hào)PN鑒別儀STZ8     BD-86A型半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀BD86A     SZT-2000型數(shù)字式四探針測(cè)試儀SZT2000     GL-1型二探針單晶硅及多晶硅測(cè)試儀GL1兩探針單晶硅及多晶硅測(cè)試儀     DB-4電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻測(cè)試儀DB4 DB-4A電阻儀     BT-900A型電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻測(cè)試儀BT900A     EWC-2型電線電纜金屬導(dǎo)體電阻率測(cè)試裝置EWC2     ST-1型數(shù)字式電線電纜導(dǎo)線電阻測(cè)試儀ST1     ST-2型數(shù)字式電線電纜導(dǎo)線電阻測(cè)試儀ST2     GD-9102型半導(dǎo)電電阻測(cè)試儀GD9102     SYZ-90礦用電纜過渡電阻測(cè)試儀SYZ90     FZ-9601粉末電阻率測(cè)試儀FZ9601     FZ-2000型粉末電阻率測(cè)試儀FZ2000     TA-901型多功能炭素材料電阻率測(cè)試儀TA901     TA-902型炭素材料電阻率測(cè)試儀TA902     TA-903型炭素電極接頭電阻率測(cè)試儀TA903     TA-904型電炭制品電阻率測(cè)試儀TA904     ST-102A/102B/S-2A/2B/2C/J-2B/J-52/DJ-Ⅱ手動(dòng)電動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)探針臺(tái)     RTS-8型數(shù)字式四探針測(cè)試儀RTS8半自動(dòng)四探針電阻率測(cè)試儀     RTS-9型數(shù)字雙電測(cè)四探針測(cè)試儀RTS9四探針方塊電阻電阻率測(cè)定儀     RTS4型數(shù)字式四探針測(cè)試儀RTS-4、RT-70/RG5四探針測(cè)試儀     RTS5型數(shù)字雙電測(cè)四探針測(cè)試儀RTS-5半自動(dòng)四探針測(cè)試儀     RTS2 RTS2A RTS3型便攜式四探針測(cè)試儀RTS-2 RTS-2A RTS-3     RTS-7二探針測(cè)試儀RTS7兩探針電阻測(cè)試儀、FT系列四探針探頭/軟件     PN12/PN12A、PN30型導(dǎo)電類型鑒別儀PN-12/PN-12A、PN-30     SZT-1型數(shù)字式四探針測(cè)試儀 SZT-2A SZT-2四探針測(cè)試儀     SZT-5硅材料復(fù)合測(cè)試儀 SZT-4簡(jiǎn)易四探針測(cè)試儀 SZT-3半導(dǎo)體導(dǎo)電型號(hào)鑒別儀STZ-3     GM-I、GM-II電阻率自動(dòng)測(cè)定儀GM-III型便攜式大規(guī)格炭-石墨制品電阻率自動(dòng)測(cè)定儀     GM-2、GM-II型智能材料試驗(yàn)機(jī)    
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