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上海華巖儀器設(shè)備有限公司供應(yīng)四探針頭/紅寶石探針頭/電動(dòng)測(cè)試架/手動(dòng)測(cè)試架/軟件
產(chǎn)品名稱：紅寶石探針頭系列 產(chǎn)品型號(hào)：KDT系列
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
一、特點(diǎn)
1、 使用幾何尺寸十分精確的紅寶石軸套，確保探針間距的恒定、準(zhǔn)確。
2、 控制寶石內(nèi)孔與探針之間的縫隙不大于6μｍ，保證探針的小游移率。
3、 采用特制的S型懸臂式彈簧，使每根探針都具有獨(dú)立、準(zhǔn)確的壓力。
4、 量具精度的硬質(zhì)合金探針，在寶石導(dǎo)孔內(nèi)穩(wěn)定運(yùn)動(dòng)，持久耐磨。
二、用途
1、 測(cè)量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率，測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻。
2、 測(cè)量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻。
三、探針間距
1、 直線四探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
2、 方形四探針…………… 1.00mm
3、 直線三探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
4、 兩探針 …………… 1.00mm、1.59mm、4.76mm、10.00mm
四、技術(shù)指標(biāo)
1、 游移率
B級(jí)…………… ＜0.5%
A級(jí)……………＜0.3%
AA級(jí)………… ＜0.2%
AAA級(jí)…………＜0.1%
2、 間距偏差
B級(jí)…………… ＜3%
A級(jí)…………… ＜2%
AA級(jí)………… ＜2%
AAA級(jí)………… ＜1%
3、 最大針與導(dǎo)孔間隙：0.006mm
4、 探針材料：硬質(zhì)合金（主成份：進(jìn)口碳化鎢）或高速鋼
5、 探針壓力 標(biāo)準(zhǔn)壓力：6—10N（4根針總壓力）
小壓力：1.2—5N（4根針總壓力）
1牛頓（N）=101.97克
6、 針尖壓痕直徑：25—100μｍ、100—250μｍ（簿層）
7、 500V絕緣電阻：＞1000MΩ
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產(chǎn)品名稱：KDT系列拔插式四探針頭
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
一、型號(hào)
KDT-1A 間距：1mm 標(biāo)準(zhǔn)壓力：6-10N 針材質(zhì)：進(jìn)口硬質(zhì)合金
KDT-1B 間距：1mm 標(biāo)準(zhǔn)壓力：6-10N 針材質(zhì)：高速鋼
 
進(jìn)口針(KDT-1A用) 高速鋼(KDT-1B用)
KDT-2A 間距：1.59mm 標(biāo)準(zhǔn)壓力：6-10N 針材質(zhì)：進(jìn)口硬質(zhì)合金
KDT-2B 間距：1.59mm 標(biāo)準(zhǔn)壓力：6-10N 針材質(zhì)：高速鋼
 
進(jìn)口針(KDT-2A用) 高速鋼(KDT-2B用)
二、特點(diǎn)
1、 百萬次超長(zhǎng)使用壽命，拔插針式，可自行更換探針。
2、 使用幾何尺寸十分精確的紅寶石軸套，確保探針間距的恒定、準(zhǔn)確。
3、 控制寶石內(nèi)孔與探針之間的縫隙不大于6μｍ，保證探針的小游移率。
4、 采用特制螺旋式微型壓力彈簧，使每根探針都具有獨(dú)立、準(zhǔn)確的壓力。
5、 量具精度的進(jìn)口硬質(zhì)合金探針，在寶石導(dǎo)孔內(nèi)穩(wěn)定運(yùn)動(dòng)，持久耐磨。
三、適用范圍
1、 測(cè)量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率，測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻。
2、 測(cè)量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻。
四、技術(shù)指標(biāo)
1、 游移率
B級(jí)…………… ＜0.5%
A級(jí)……………＜0.3%
AA級(jí)………… ＜0.2%
2、 間距偏差
B級(jí)…………… ＜3%
A級(jí)…………… ＜2%
AA級(jí)………… ＜2%
3、 最大針與導(dǎo)孔間隙：0.006mm
4、 探針材料：進(jìn)口硬質(zhì)合金或高速鋼
5、 探針壓力 標(biāo)準(zhǔn)壓力：4—10N（4根針總壓力）
1牛頓（N）=101.97克
6、 針尖壓痕直徑：25—100μｍ、100—250μｍ（簿層）
7、 500V絕緣電阻：＞1000MΩ
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上海華巖儀器設(shè)備有限公司供應(yīng)KDT系列紅寶石探針頭系列
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
一、特點(diǎn)
1、 使用幾何尺寸十分精確的紅寶石軸套，確保探針間距的恒定、準(zhǔn)確。
2、 控制寶石內(nèi)孔與探針之間的縫隙不大于6μｍ，保證探針的小游移率。
3、 采用特制的S型懸臂式彈簧，使每根探針都具有獨(dú)立、準(zhǔn)確的壓力。
4、 量具精度的硬質(zhì)合金探針，在寶石導(dǎo)孔內(nèi)穩(wěn)定運(yùn)動(dòng)，持久耐磨。
二、用途
1、 測(cè)量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率，測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻。
2、 測(cè)量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻。
三、探針間距
1、 直線四探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
2、 方形四探針…………… 1.00mm
3、 直線三探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
4、 兩探針 …………… 1.00mm、1.59mm、4.76mm、10.00mm
四、技術(shù)指標(biāo)
1、 游移率
B級(jí)…………… ＜0.5%
A級(jí)……………＜0.3%
AA級(jí)………… ＜0.2%
AAA級(jí)…………＜0.1%
2、 間距偏差
B級(jí)…………… ＜3%
A級(jí)…………… ＜2%
AA級(jí)………… ＜2%
AAA級(jí)………… ＜1%
3、 最大針與導(dǎo)孔間隙：0.006mm
4、 探針材料：硬質(zhì)合金（主成份：進(jìn)口碳化鎢）或高速鋼
5、 探針壓力 標(biāo)準(zhǔn)壓力：6—10N（4根針總壓力）
小壓力：1.2—5N（4根針總壓力）
1牛頓（N）=101.97克
6、 針尖壓痕直徑：25—100μｍ、100—250μｍ（簿層）
7、 500V絕緣電阻：＞1000MΩ
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上海華巖儀器設(shè)備有限公司供應(yīng)KDDJ-2四探針程控電動(dòng)測(cè)試架
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
KDDJ-2型電動(dòng)架是使用步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)，采用單板機(jī)可編程控制，操作方便，可隨意調(diào)節(jié)探頭的下降最低點(diǎn)，上升最高點(diǎn)固定，探頭在最高最低點(diǎn)的停留時(shí)間范圍廣（從0-19秒）。硅片硅錠均可測(cè)量，普通硅錠測(cè)量高度為180mm（可按用戶要求加高），測(cè)試臺(tái)最大直徑200mm，不能旋轉(zhuǎn)和移動(dòng)。
2、使用方法
電機(jī)在電源開關(guān)接通和按停止按鈕后自動(dòng)上升至最高點(diǎn)，進(jìn)入備用狀態(tài)。
（1）自動(dòng)： 按自動(dòng)按鈕電機(jī)就按設(shè)定自動(dòng)上升和下降。上升的最高點(diǎn)是固定不變的，下降的最低點(diǎn)可以隨意調(diào)節(jié)，在最高和最低點(diǎn)的停留時(shí)間是可調(diào)的。當(dāng)電機(jī)進(jìn)入自動(dòng)狀態(tài)時(shí)按其他功能按鈕均無效，如需停止運(yùn)行進(jìn)行其它操作，按下停止按鈕1秒即可。
（2）手動(dòng)： 按一下手動(dòng)按鈕電機(jī)就下降至當(dāng)前設(shè)定的最低點(diǎn)，再按一下就上升至最高點(diǎn)。
注：如需重新設(shè)定最低點(diǎn)時(shí)，設(shè)定結(jié)束后先按停止按鈕再進(jìn)行手動(dòng)超做。如在剛設(shè)定好最低點(diǎn)后直接按手動(dòng)按鈕探頭會(huì)下降到導(dǎo)軌的最低點(diǎn)，（行程開關(guān)接通為止）可能會(huì)對(duì)被測(cè)試物品造成損壞。
（3）定位： 當(dāng)需要重新修改探頭下降的最低點(diǎn)時(shí)，設(shè)備必須在備用狀態(tài)下才可進(jìn)行修改，修改前要先把以前的數(shù)據(jù)清除掉，按定位清0即可。之后按定位按鈕，每按一下探頭就往下移動(dòng)0.5mm，數(shù)據(jù)自動(dòng)加1，最大數(shù)據(jù)約為70-80，到達(dá)導(dǎo)軌的最低點(diǎn)時(shí)行程開關(guān)接通數(shù)據(jù)自動(dòng)回0，再按定位按鈕無效。探頭下降的最低點(diǎn)設(shè)定好后按停止按鈕1秒，就可以進(jìn)行自動(dòng)或手動(dòng)操作。
（4）定位清0：在需要重新設(shè)定探頭下降最低點(diǎn)時(shí)使用，按下后清除原有數(shù)據(jù)源方便重新設(shè)定。
（5）上延時(shí)： 設(shè)定探頭在上升至最高點(diǎn)時(shí)需要停留的時(shí)間，先按上延時(shí)按鈕功能窗口顯示UP，這時(shí)按 調(diào)整到需要時(shí)間。時(shí)間調(diào)節(jié)范圍從0-19秒，每按一次數(shù)據(jù)自動(dòng)+或-1（范圍為0-95），對(duì)應(yīng)時(shí)間約為1≈0.2秒，時(shí)間設(shè)定好后再按上延時(shí)按鈕確定。
（6）下延時(shí)： 設(shè)定探頭在下降至最低點(diǎn)時(shí)探頭需要在被測(cè)樣品上的停留時(shí)間，先按下延時(shí)按鈕功能窗口顯示d∩，這時(shí)按 調(diào)整到需要時(shí)間。時(shí)間調(diào)節(jié)范圍從0-19秒，每按一次數(shù)據(jù)自動(dòng)+或-1（范圍為0-95），對(duì)應(yīng)時(shí)間約為1≈0.2秒，時(shí)間設(shè)定好后再按下延時(shí)按鈕確定。
（7） ：設(shè)定探頭在下降至最低點(diǎn)或探頭在上升至最高點(diǎn)時(shí)的停留時(shí)間，每按一次數(shù)據(jù)自動(dòng)+1（范圍為0-95），大于95時(shí)自動(dòng)回0，對(duì)應(yīng)時(shí)間約為數(shù)據(jù)1≈0.2秒
（8） ：設(shè)定探頭在下降至最低點(diǎn)或探頭在上升至最高點(diǎn)時(shí)的停留時(shí)間，每按一次數(shù)據(jù)自動(dòng)-1（范圍為0-95），小于0后自動(dòng)跳到95，對(duì)應(yīng)時(shí)間約為數(shù)據(jù)1≈0.2秒
3、日常維護(hù)
（1）在測(cè)試架的立柱上有一卡環(huán)，防止電動(dòng)測(cè)試部件因操作失誤而跌落，保護(hù)探針頭和測(cè)試臺(tái)面。可根據(jù)需要把卡環(huán)緊固在合適的位置。
（2）測(cè)試臺(tái)可360度旋轉(zhuǎn)，通過靠近把手的內(nèi)六角螺絲調(diào)節(jié)旋轉(zhuǎn)的松緊。
（3）在設(shè)定探頭下降最低點(diǎn)時(shí)，一般把砝碼頂起1-2mm即可，砝碼最高可頂起約為8mm，頂起過高可能會(huì)卡住探頭引出線。
（4）在電動(dòng)架上的機(jī)械活動(dòng)部分需定期加黃油，保證活動(dòng)順暢。在探針頭上的兩條直線軸承上也需定期加少量潤(rùn)滑油。
4、主機(jī)技術(shù)能數(shù)
（4）供電電源： AC 220V±10% 50/60 Hz 功率：40W
（5）使用環(huán)境： 溫度：23±2℃ 相對(duì)濕度：≤65% 無較強(qiáng)的電場(chǎng)干擾，無強(qiáng)光直接照射
（6）重量、體積：
主機(jī)重量：30kg
體積：300×400×400（單位：mm 長(zhǎng)度×寬度×高度）
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KDJ-1B四探針手動(dòng)測(cè)試架
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上海華巖儀器設(shè)備有限公司供應(yīng)KDJ-3四探針手動(dòng)測(cè)試架
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上海華巖儀器設(shè)備有限公司供應(yīng)KDJ-1A四探針手動(dòng)測(cè)試架
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KDY測(cè)量系統(tǒng)微控制器及配套專用軟件 產(chǎn)品簡(jiǎn)介
KDY測(cè)量系統(tǒng)微控制器及配套軟件專用于硅晶體的電阻率測(cè)量，集多種測(cè)量方法為一體，是與KDY-1或KDY-2電阻率測(cè)試儀配套使用，自動(dòng)獲取電壓讀數(shù)，計(jì)算并修正電阻率值，數(shù)據(jù)自動(dòng)保存，快速查詢，提供打印及導(dǎo)出格式，操作簡(jiǎn)單，方便可靠。
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KDT-11 / KDT-12紅寶石三探針頭 
STY型號(hào)儀冷熱筆
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當(dāng)前位置：
