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上海華巖儀器設備有限公司供應XX-2型方塊電阻測試儀

XX-2型方塊電阻測試儀,是XX型系列四探針方塊電阻測試儀中的新一代產品,是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準而設計,專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器.可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等同類物質的薄層電阻。 
特點：     上海華巖儀器設備有限公司供應XX2型方塊電阻測試儀。
1、采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定。 
2、以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰 
3、采用單個電池供電，帶電池欠壓指示 
4、體積≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g 
5、可配臺式探頭和特制之手握式探頭，對應可采用臺式和手握式操作，使用簡易 
6、帶探頭與被測物質接觸良好指示(LED) 
7、單電源開關，推拉式探頭－主機接插件，操作極其簡便。 
技術指標 
測量范圍：基本量程：方塊電阻 1.00-199.99(Ω/口) 
          擴展量程: 方塊電阻 10.0-1999.9(Ω/口) 
測量不確定度≤5% 
探針間距:1mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500 MΩ 
手握式探筆長度:約150mm或90mm;電纜聯線長度:約1.5M