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KDY-1四探針電阻率/方阻測試儀
1、概述
KDY-1型四探針電阻率/方阻測試儀（以下簡稱電阻率測試儀）是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電薄膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試架及四探針頭組成。
本儀器的特點是主機配置雙數字表，在測量電阻率的同時，另一塊數字表（以萬分之幾的精度）適時監測全程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉換，更及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流高度穩定。本機配有恒流源開關，在測量某些薄層材料時，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發生，更好地保護箔膜。儀器配置了本公司的專利產品：“小游移四探針頭”，探針游移率在0.1～0.2%。保證了儀器測量電阻率的重復性和準確度。本機可加配KDY測量系統，測量硅片時可自動進行厚度、直徑、探針間距的修正，并計算出硅片電阻率、徑向電阻率的最大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均勻度，給測量帶來很大方便。
2、主機技術能數
（1）測量范圍：
可測電阻率：0.0001～19000Ω·cm
可測方塊電阻：0.001～190000Ω/□
（2）恒流源：
輸出電流：DC0.001～100mA五檔連續可調
量程：0.001～0.01mA、0.01～0.10mA、0.10～1.0mA、1.0～10mA、10～100mA
恒流精度：各檔均低于±0.05%
（3）直流數字電壓表：
測量范圍：0～199.99mV
靈敏度：10μV
基本誤差：±（0.004%讀數+0.01%滿度）
輸入阻抗：≥1000MΩ
（4）測量精度：電器精度：1－1000歐姆≤0.3%
整機測量精度：1－1000歐姆·厘米≤3%
（5）供電電源：
AC220V±10%50/60Hz功率：12W
（6）使用環境：溫度：23±2℃相對濕度：≤65%
無較強的電場干擾，電源隔離濾波，無強光直接照射
（7）重量、體積：
主機重量：7.5kg
體積：365×380×160（單位：mm長度×寬度×高度）
該儀器可選配KDY四探針測試系統連接計算機軟件進行測量，測試結果更加精確、簡便，測量數據自動保存，可進行導出excel等操作，便于保存數據。
KDY-1四探針電阻率/方阻測試儀（低阻型）
1、概述
KDY-1型四探針電阻率/方阻測試儀（以下簡稱電阻率測試儀）是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電薄膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試架及四探針頭組成。
本儀器的特點是主機配置雙數字表，在測量電阻率的同時，另一塊數字表（以萬分之幾的精度）適時監測全程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉換，更及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流高度穩定。本機配有恒流源開關，在測量某些薄層材料時，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發生，更好地保護箔膜。儀器配置了本公司的專利產品：“小游移四探針頭”，探針游移率在0.1～0.2%。保證了儀器測量電阻率的重復性和準確度。本機可加配KDY測量系統，測量硅片時可自動進行厚度、直徑、探針間距的修正，并計算出硅片電阻率、徑向電阻率的最大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均勻度，給測量帶來很大方便。
2、主機技術能數
（1）測量范圍：
可測電阻率：0.00001～1999.9Ω·cm
可測方塊電阻：0.0001～19999Ω/□
（2）恒流源：
輸出電流：DC0.001～100mA五檔連續可調
量程：0.001～0.01mA、0.01～0.10mA、0.10～1.0mA、1.0～10mA、10～100mA
恒流精度：各檔均低于±0.05%
（3）直流數字電壓表：
測量范圍：0～19.999mV
靈敏度：1μV
基本誤差：±（0.004%讀數+0.01%滿度）
輸入阻抗：≥1000MΩ
（4）測量精度：電器精度：1－1000歐姆≤0.3%
整機測量精度：1－1000歐姆·厘米≤3%
（5）供電電源：AC220V±10%50/60Hz功率：12W
（6）使用環境：溫度：23±2℃相對濕度：≤65%
無較強的電場干擾，電源隔離濾波，無強光直接照射
（7）重量、體積：
主機重量：7.5kg
體積：365×380×160（單位：mm長度×寬度×高度）
該儀器可選配KDY四探針測試系統連接計算機軟件進行測量，測試結果更加精確、簡便，測量數據自動保存，可進行導出excel等操作，便于保存數據。
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